此测试案例为某客户直插型双边缘连接器的SI测试项目
测试分为频域和时域两方面，频域包括插损，回损，串扰，时域包括阻抗，时延，串扰等。
1、测试板实物图
2、测试环境
VNA：Agilent网络分析仪
TDR：Agilent E5071C
Test Board：8208-直母系列连接器测试板
3、测试结果
（1）TDR特征阻抗
信号上升时间 | 30±5ps | 50 ps | 100 ps | 250 ps | 500 ps | 750 ps | 1 ns |
最大阻抗 | 57.888 | 54.230 | 51.307 | 50.707 | 51.218 | 51.605 | 51.995 |
最小阻抗 | 42.252 | 45.496 | 48.271 | 50.342 | 51.126 | 51.483 | 51.680 |
（2）插损对比
（3）回损对比
（4）差分延时
（5）NEXT近端串扰
（6）FEXT远端串扰
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